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教師資料查詢 | 教師：饒建奇

# 學年期 類別 標題
241 104-2 教學計畫表 電機系電資三：硬體描述語言 TETDB3E2357 0A
242 104-2 教學計畫表 電機系電通一：資訊概論 TETEB1E1034 2A
243 104-2 教學計畫表 電機系電資一：資訊概論 TETDB1E1034 2R
244 104-2 教學計畫表 電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 2R
245 104-2 教學計畫表 電機進學班一：資訊概論 TETXE1E1034 2A
246 104-1 教學研習 「大學學習」課程教學講座--大一新生學涯與職涯發展（2015-11-09 12:00:00 ~ 14:00:00）
247 104-1 論文指導 電機一碩專班 簡堯彬
248 104-1 教學研習 健康雲服務---智慧醫療物聯網（2015-11-05 12:00:00 ~ 14:00:00）
249 104-1 教學研習 「產學合作教學實務」專題演講（2015-10-07 12:00:00 ~ 14:00:00）
250 104-1 教學計畫表 電機系電資三：介面實驗 TETDB3E1563 0A
263 104-1 教學計畫表 電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 1R
251 94-2 會議論文 A broadcast-based test scheme for reducing test size and application time
252 104-1 教學計畫表 電機系電資四：電子實驗 TETDB4E1568 0B
253 93-2 會議論文 Reconfigurable multiple scan-chains for reducing test application time of SOCs
254 93-2 會議論文 A novel reseeding mechanism for pseudo-random testing of VLSI circuits
255 88-2 會議論文 A timing-driven pseudo-exhaustive testing of VLSI circuits
256 91-2 會議論文 An efficient mechanism for debugging RTL description
257 104-1 教學計畫表 電機進學班四：硬體描述語言 TETXE4E2357 0A
258 104-1 教學計畫表 電機進學班一：資訊概論 TETXE1E1034 1A
259 104-1 教學計畫表 電機系電通一：資訊概論 TETEB1E1034 1A
260 104-1 教學計畫表 電機系電資四：演算法 TETDB4E1111 0A
261 104-1 教學計畫表 電機系電資一：大學學習 TETDB1T0863 0A
262 104-1 教學計畫表 電機系電資一：資訊概論 TETDB1E1034 1R
264 100-1 研究報告 低捕捉功率快速掃描測試架構之研究
265 96-2 期刊論文 A Novel Reseeding Mechanism for Improving Pseudo-Random Testing of VLSI Circuits
266 103-1 研究獎勵 Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect
267 99-1 會議論文 The AB-Filling Methodology for Power-aware At-Speed Scan Testing
268 98-1 會議論文 A New Scheme of Reducing Shift and Capture Power Using the X-Filling Methodology
269 96-2 期刊論文 An Efficient Scheduling Algorithm Based On Multi-frequency TAM for SOC Testing
270 99-2 期刊論文 Power-aware compression scheme for multiple scan-chain