Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect
學年 103
學期 1
申請日期 2014-08-01
得獎人員 饒建奇 JIANN-CHYI RAU
得獎論文名稱 Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect
得獎等級 0
所屬類別 0
出版者 Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on 32(6), pp.971-975
研究獎勵類別 5
備註
發表日期 2013-01-01