| 331 |
101-2
|
教學計畫表
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電機一電路組：超大型積體電路測試與可測試設計 TETBM1E2590 0A
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| 332 |
101-2
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教學計畫表
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電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 2A
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| 333 |
101-2
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教學計畫表
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電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 2R
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| 334 |
101-2
|
教學計畫表
|
電機系電資三：硬體描述語言 TETAB3E2357 0A
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| 335 |
101-2
|
教學計畫表
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電機系電資一：資訊概論 TETAB1E1034 2R
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| 336 |
101-2
|
教學計畫表
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電機系電通三：微處理機實驗 TETBB3E1565 0B
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| 337 |
100-1
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研究獎勵
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Optimal Test Access Mechanism (TAM) for Reducing Test Application Time of Core-Based SOCs
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| 338 |
100-1
|
研究獎勵
|
Power-Aware Multi-Chains Encoding Scheme for System-on-a-chip in Low-Cost Environment
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| 339 |
100-1
|
研究獎勵
|
An Efficient Algorithm to Selectively Gate Scan Cells for Capture Power Reduction
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| 340 |
101-1
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論文指導
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電機一電路組 林承瀚
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| 341 |
101-1
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論文指導
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電機一機器人 陳昱璇
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| 342 |
101-1
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論文指導
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電機一碩專班 陳威豪
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| 343 |
101-1
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教學計畫表
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電機系電資三：作業系統 TETAB3E0175 0A
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| 344 |
101-1
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教學計畫表
|
電機一博士班：3D系統晶片測試特論 TETXD1E3316 0A
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| 345 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機進學班四：硬體描述語言 TETXE4E2357 0A
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| 346 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 1A
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| 347 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 1R
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| 348 |
101-1
|
教學計畫表
|
電機系電資一：資訊概論 TETAB1E1034 1R
|
| 349 |
92-2
|
期刊論文
|
以Layout為基礎的高效率多重掃描鍊最佳化
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| 350 |
100-2
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教學計畫表
|
電機系電機三：微處理機實驗 TETCB3E1565 0B
|
| 351 |
100-2
|
教學計畫表
|
電機一電路組：超大型積體電路測試與可測試設計 TETBM1E2590 0A
|
| 352 |
100-2
|
教學計畫表
|
電機系電資三：硬體描述語言 TETAB3E2357 0A
|
| 353 |
100-2
|
教學計畫表
|
電機系電機一：資訊概論 TETCB1E1034 2A
|
| 354 |
100-2
|
教學計畫表
|
電機系電通一：資訊概論 TETBB1E1034 2R
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| 355 |
100-2
|
教學計畫表
|
電機系電資一：資訊概論 TETAB1E1034 2R
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| 356 |
97-1
|
會議論文
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Test Slice Difference Technique for Low Power Testing
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| 357 |
99-1
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會議論文
|
An Filling Methodology for Efficient Compaction of Test Responses with Unknowns
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| 358 |
96-2
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會議論文
|
An Efficient Test-Data Compaction for Low Power VLSI Testing
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| 359 |
97-1
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會議論文
|
An Efficient Scheduling Algorithm for Testing SOC with Multi-Frequency TAM
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| 360 |
96-1
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會議論文
|
A Novel High-Speed SOC Test Scheme Using Virtual TAMs
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