| Fast Detection of Fabric Defects based on Neural Networks | |
|---|---|
| 學年 | 111 |
| 學期 | 2 |
| 發表日期 | 2023-06-30 |
| 作品名稱 | Fast Detection of Fabric Defects based on Neural Networks |
| 作品名稱（其他語言） | |
| 著者 | Chien-Chang Chen, Chia Hung Wei, Cheng-shian Lin |
| 作品所屬單位 | |
| 出版者 | |
| 會議名稱 | IEEE International Symposium on Computer, Consumer and Control |
| 會議地點 | Taichung, Taiwan |
| 摘要 | |
| 關鍵字 | |
| 語言 | en_US |
| 收錄於 | |
| 會議性質 | 國際 |
| 校內研討會地點 | 無 |
| 研討會時間 | 20230630~20230703 |
| 通訊作者 | Cheng-Shian Lin |
| 國別 | TWN |
| 公開徵稿 | |
| 出版型式 | |
| 出處 | |
| 相關連結 |
機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/124378 ) |
| SDGS | 優質教育 |
GoogleAnalytics