Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow
學年 108
學期 2
出版（發表）日期 2020-04-06
作品名稱 Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow
作品名稱（其他語言）
著者 Li-Ching Chen; Jiun-Yi Wang
單位
出版者
著錄名稱、卷期、頁數 Biometrics 76(2), p.569-571
摘要
關鍵字
語言 en_US
ISSN
期刊性質 國外
收錄於 SCI
產學合作
通訊作者
審稿制度 是
國別 USA
公開徵稿
出版型式 ,電子版,紙本
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