會議論文

學年 109
學期 1
發表日期 2020-12-05
作品名稱 Optimal Design for Accelerated-Stress Acceptance Test
作品名稱(其他語言)
著者 Chih-Chun Tsai; Chien-Tai Lin; Narayanaswamy Balakrishnan
作品所屬單位
出版者
會議名稱 2020年中華民國數學年會
會議地點 台北市,台灣
摘要
關鍵字
語言 zh_TW
收錄於
會議性質 國內
校內研討會地點
研討會時間 20201205~20201206
通訊作者
國別 TWN
公開徵稿
出版型式
出處 IEEE Transactions on Reliability 64(2)
相關連結

機構典藏連結 ( http://tkuir.lib.tku.edu.tw:8080/dspace/handle/987654321/123483 )