研究獎勵
學年 | 106 |
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學期 | 1 |
申請日期 | 2017-08-01 |
得獎人員 | 蔡宗儒 TZONG-RU TSAI |
得獎論文名稱 | Optimal two-variable accelerated degradation test plan for gamma degradation process |
得獎等級 | 0 |
所屬類別 | 0 |
出版者 | IEEE Transactions on Reliability 65(1), p.459-468 |
研究獎勵類別 | 5 |
備註 | |
發表日期 | 2016-01-01 |